設(she)備禁止如下(xia)  1：易燃、爆炸、易揮發性(xing)物(wu)質試(shi)(shi)樣的(de)試(shi)(shi)驗(yan)及儲存(cun)(cun)(cun) 2 ：腐蝕性(xing)物(wu)質試(shi)(shi)樣的(de)試(shi)(shi)驗(yan)及儲存(cun)(cun)(cun) 3：生物(wu)試(shi)(shi)樣的(de)試(shi)(shi)驗(yan)或儲存(cun)(cun)(cun)

 （請務必注意以下事(shi)項,否則(ze)后果概不(bu)負責） 1. 使用(yong)前檢(jian)查電(dian)(dian)壓是否正確，請使用(yong)機臺上(shang)所標示(shi)之電(dian)(dian)壓，避免電(dian)(dian)過量(liang)，而(er)發生火(huo)災。 2. ※馬達(da)運行方向是否正常，若出風口有氣體排出則(ze)為正常。（只適用(yong)于三相電(dian)(dian)壓380V的機型）。

ATE是Automatic Test Equipment(自(zi)動化(hua)測試(shi)設(she)備(bei))的(de)英文縮寫，是一種通過(guo)計(ji)算(suan)機控制進(jin)行器件、電(dian)路板和子系統等(deng)測試(shi)的(de)設(she)備(bei)。通過(guo)計(ji)算(suan)機編程(cheng)取代(dai)人工勞動，自(zi)動化(hua)的(de)完成測試(shi)序列(lie)。 ATE在60年代(dai)早期始于快捷(jie)半導體（Fairchild）。

ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，根據客戶的測試(shi)要求、圖(tu)紙及參考方案，采用(yong)MCU、PLC、PC基于VB、VC開發平(ping)臺，利用(yong)TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技(ji)術開發、設(she)(she)計(ji)各類自動(dong)化測試(shi)設(she)(she)備。