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ATE測試的領域

來(lai)源: 時間(jian):2019-03-28 16:01:23 瀏覽次數:

ATE是Automatic Test Equipment的縮寫,根據客戶的測試要求、圖紙及參考方案,采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開發平臺,利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術開發、設計各類自動化測試設備。
ATE是Automatic Test Equipment的縮(suo)寫,根據客戶的測試要(yao)求、圖紙及(ji)參考(kao)方案,采(cai)用MCU、PLC、PC基(ji)于(yu)VB、VC開發平臺,利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術開發、設計各類自動化測試設備(bei)。

一、ATE測試(shi)

    由DMM,程控電源,DAQ Card, 單片(pian)機(ji),繼電器,PLC,氣缸,Fixture等組成的電信號自(zi)(zi)(zi)動(dong)采(cai)集系統,廣泛運用(yong)于ICT,FCT等測(ce)試(shi)設備。軟(ruan)(ruan)件部分采(cai)用(yong)NI LABView編寫,全自(zi)(zi)(zi)動(dong)依次采(cai)集并判定PASS/FAIL,自(zi)(zi)(zi)動(dong)生成測(ce)試(shi)報表并上傳(chuan)數據庫.

二、ATE測(ce)試(shi)-手機(ji)測(ce)試(shi)

手(shou)機(ji)硬件級結構性能測(ce)(ce)試 ,采用LabVIEW圖形化編程語言和TestStand測(ce)(ce)試管理軟件開(kai)發平臺(tai)對手(shou)機(ji)進行按(an)鍵老化測(ce)(ce)試、按(an)鍵靈敏度測(ce)(ce)試、開(kai)短路測(ce)(ce)試、LCD背(bei)光(guang)及按(an)鍵背(bei)光(guang)測(ce)(ce)試、RF測(ce)(ce)試、電流電壓測(ce)(ce)試、翻(fan)蓋(gai)測(ce)(ce)試、扭矩(ju)測(ce)(ce)試等。

三、ATE測試(shi)-汽車電子(zi)測試(shi)
隨著(zhu)(zhu)半導體及軟件技術的(de)(de)快速發展,汽車(che)電子(zi)在汽車(che)產(chan)業(ye)中(zhong)所占比例越(yue)來(lai)越(yue)大。從汽車(che)的(de)(de)舒適性(xing)到穩定性(xing)乃(nai)至安全性(xing)的(de)(de)實現中(zhong),汽車(che)電子(zi)產(chan)品都擔(dan)任著(zhu)(zhu)至關重要的(de)(de)角色(se),并且正發揮著(zhu)(zhu)越(yue)來(lai)越(yue)廣泛的(de)(de)作(zuo)用(yong)。 
  采用(yong)LabVIEW圖形(xing)化(hua)編程語言和TestStand測試(shi)管理軟(ruan)件開發或基于MCU、PLC平臺對汽車(che)(che)藍牙、胎壓(ya)、防(fang)盜安全控制、無線鑰匙、倒車(che)(che)影(ying)像系統、倒車(che)(che)雷達、燈(deng)光控制等進行測試(shi),能有效提(ti)高產品質(zhi)量(liang)、加(jia)快生產周期、降低生產成(cheng)本(ben)等。
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